ESD防静电测试

测试描述：
测试仪器：ESD－20G （3ctest）
气隙接触：＋－1000 到 ＋－15000V
测试次数：连续测试10个循环
测试（气隙）标准：

leve1：+/-2000v；leve2：+/-4000v；

leve3：+/-8000v； leve4：+/-15000v
芯邦芯片方案：满足>leve3需求
其它芯片方案： 满足<leve3需求
重点：
一般气隙放电做到8000V，我们远超8000V